系统工作原理

系统采用纳米光谱分析的原理，利用特定波长的纳米光通过固定的角度射入所要检测的材料(薄膜、涂层、玻球等)，通过特定的光路，经过材料内部多次折射后被系统的光谱接收器接收。SimVision中央处理系统将收集到的光谱信号进行拟合分析，因为特定波长的纳米光通过不同的材料(厚度、密度、成份) 时，所形成的光的图谱信息是完全不同的，系统将分析之后的光谱信息与Simvision光谱材料数据库中的光谱信息进行对比匹配，同时进行特征值曲线的仿直拟合，根据匹配的曲线特征值逆推出不同材料的原度、折射率(参者二氧化砖》等信息，从而实现涂层厚度的离线/在线测量。